無(wú)線(xiàn)數(shù)字平板探測(cè)器維修Mars1717XU-VSI X光機(jī)DR平板探測(cè)器維修
非晶硒(a-Se)為直接式平板探測(cè)器結(jié)構(gòu)，主要由集電矩陣、硒層、電介層、頂層電路和保護(hù)層等構(gòu)成。集電矩陣由按陣元方式排列的薄膜晶體管(TFT)組成。非晶硒半導(dǎo)體材料在薄膜晶體管陣列上方通過(guò)真空蒸鍍生成約0.5 mm厚、38 mm×45 mm見(jiàn)方的薄膜，它對(duì)X線(xiàn)很敏感，并有很高的圖像解析能力 。頂層電路接高壓電源，當(dāng)有X線(xiàn)入射時(shí)，由于高壓電源在非晶硒表面形成的電場(chǎng)，它們只能沿電場(chǎng)方向垂直穿過(guò)隔層、X射線(xiàn)半導(dǎo)體、電子封閉層，到達(dá)非晶硒，不會(huì)出現(xiàn)橫向偏離從而出現(xiàn)光的散射。非晶硒陣列直接將X射線(xiàn)轉(zhuǎn)變成電信號(hào)，記憶在存儲(chǔ)電容器里，脈沖控制門(mén)電路使薄膜晶體管導(dǎo)通，把記憶在存儲(chǔ)電容器里的電荷送達(dá)電荷放大器輸出，完成光電信號(hào)的轉(zhuǎn)換，再經(jīng)數(shù)字轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換，形成數(shù)字圖像輸入計(jì)算機(jī)，并由計(jì)算機(jī)將該影像還原在監(jiān)視器上由醫(yī)生觀察監(jiān)視器直接診斷 。DR平板探測(cè)器維修及故障分析如下：高壓發(fā)生器或控制臺(tái)或者電腦主機(jī)無(wú)法通訊,造成該故障的原因可能為:量的片狀、條狀偽影,多次開(kāi)關(guān)機(jī),故障依舊;次日重新開(kāi)機(jī),再次出現(xiàn)大高壓發(fā)生器上的板壞;通訊連接線(xiàn)壞;控制臺(tái)電腦量的片狀、條狀偽影,不能使用，主機(jī)通訊有故障。據(jù)故障現(xiàn)象初步考慮為平板探測(cè)器故障,因客戶(hù)未有平板探測(cè)器方面的維修經(jīng)驗(yàn)及相應(yīng)維修資拆開(kāi)高壓發(fā)生器柜,檢查控制通訊的板及連接線(xiàn),未發(fā)現(xiàn)連接線(xiàn)有損壞情況，緊急聯(lián)系工程師到院進(jìn)行檢修;廠(chǎng)家工程師到院檢修后,板上的指示燈亮，但指示燈閃爍,同時(shí)發(fā)現(xiàn)高壓控制板上的指示燈亮,但也未有閃爍，確定為該平板探測(cè)器故障,需更換。因更換平板檢測(cè)器價(jià)格較高,并且該平板探測(cè)器在關(guān)機(jī)停板正常,但未接受到控制訊號(hào)，初步考慮決定對(duì)該平板探測(cè)器進(jìn)行大膽嘗試性維修。經(jīng)過(guò)查連人電腦主機(jī)進(jìn)行通訊的,同時(shí)溫度控制器度有關(guān)系;拆開(kāi)平板探測(cè)器,檢查與非拼接大片連接的溫度控制部分,故障前后溫度恒定，機(jī)較長(zhǎng)時(shí)間后,初步考障可能發(fā)生在控制臺(tái)電腦主機(jī)處。檢查電腦主機(jī)，考慮該平板探測(cè)器未完全損壞,可能為軟故障,我科發(fā)現(xiàn)高壓發(fā)生器是通過(guò)電腦主機(jī)上的口也是通過(guò)主機(jī)上口與電腦主機(jī)進(jìn)行通迅的。X射線(xiàn)探測(cè)器維修，因電腦主機(jī)運(yùn)行基本正常,溫度控制及顯示也正常,考慮通過(guò)對(duì)換兩串口上的連接線(xiàn)來(lái)檢測(cè)控溫正常。進(jìn)一步檢查平板探測(cè)器的相關(guān)電路及端口是否正常。將兩連接線(xiàn)進(jìn)行對(duì)換并做相應(yīng)路板也未有發(fā)現(xiàn)。大膽拆下溫度控制部分及設(shè)置修改后,發(fā)現(xiàn)有數(shù)點(diǎn)水珠,分析水珠產(chǎn)生原因。進(jìn)行試機(jī),發(fā)現(xiàn)溫度控制器與主機(jī)無(wú)法正常連接,高壓發(fā)生器通訊連接正常,但不能曝光,說(shuō)明口損壞。因該電腦主機(jī)的口未集成在電腦主板上,而是一個(gè)轉(zhuǎn)接口,成探測(cè)器圖像質(zhì)量下降,偽影嚴(yán)重的原因,用吹風(fēng)機(jī)將吹干后,在工作臺(tái)上清潔干凈表面的灰塵,小心地將裝回探測(cè)器,并緊固新的串口轉(zhuǎn)接板進(jìn)行更換，完成數(shù)字平板探測(cè)器維修。
